Wyniki przetargu: SZP/243-139/2026 Dostawa multifunkcjonalnego mikroskopu elektronowego do technik łączonych FIB-SEM (...) w ramach potrzeb Wydziału Mechanicznego Politechniki Wrocławskiej

Opis Przedmiotu Zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja oraz przeprowadzenie instruktażu stanowiskowego dla fabrycznie nowego, multifunkcjonalnego mikroskopu elektronowego do technik łączonych FIB-SEM. Urządzenie stanowi zintegrowaną platformę badawczą wyposażoną w działo jonowe, spektrometr ramanowski, analizator składu chemicznego uXRF oraz mikroanalizator rentgenowski EDS, umożliwiającą kompleksową analizę materiałową in-situ w jednym cyklu próżniowym. Charakterystyka Techniczna Mikroskopu SEM+FIB Działo elektronowe: Termiczna emisja polowa (Schottky) z automatycznym justowaniem kolumny. Napięcie przyspieszające: Zakres od 20 V do 30 000 V (skok regulacji co 10 V).