Przetarg: F2/67/2026/ZP Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.

Opis Przedmiotu Zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowego, nieużywanego przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych. Zakres obejmuje instalację, uruchomienie, testowanie urządzenia, szkolenie dla co najmniej 4 osób oraz dostarczenie dokumentacji technicznej i instrukcji obsługi w języku polskim i angielskim. Przyrząd musi spełniać szczegółowe wymagania techniczne, umożliwiając kontrolę rezystywności warstw półprzewodnikowych, w szczególności GaN, SiC, Ga2O3, bez konieczności wytwarzania kontaktów omowych.