Przetarg: Zapytanie ofertowe na na wynajem mikroskopu dwuwiązkowego (dual beam) typu PFIB/SEM

Opis Przedmiotu Zamówienia Przedmiotem zamówienia jest wynajem mikroskopu dwuwiązkowego (dual beam) typu PFIB/SEM w związku z realizacją prac rozwojowych w ramach projektu FEDS.01.02-IP.01-0015/24 pn. „Zwiększenie wydajności produkcji szklanych mikrokomponentów dozujących poprzez optymalizację procesu i implementację algorytmów rozpoznawania obrazów”. Szacowana liczba dni wynajmu wynosi 65 dni roboczych. Zakres zamówienia Zakres zamówienia obejmuje wynajem urządzenia dual beam typu PFIB/SEM w zakresie: obrazowania SEM, mikro- i nanoobróbki PFIB, podłączania sygnałów elektrycznych do wnętrza komory w celu wykonania pomiarów elektrycznych. Specyfikacja techniczna urządzenia 1.