Przetarg: Dostawa zestawu stanowiska pomiarowego typu Probe Station

Opis Przedmiotu Zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa kompletnego, funkcjonalnie i technicznie zintegrowanego zestawu stanowiska pomiarowego typu Probe Station. Urządzenie przeznaczone jest do precyzyjnych pomiarów elektrycznych, optoelektronicznych oraz światłowodowych elementów półprzewodnikowych, w tym struktur epitaksjalnych i przyrządów fotonicznych. Kluczową cechą systemu jest umożliwienie wykonywania pomiarów z jednoczesnym dostępem do obu stron badanej próbki (double-side probing) bez konieczności jej odwracania. Skład zestawu i specyfikacja techniczna Stanowisko Probe Station i stolik pomiarowy Dostęp pomiarowy: Jednoczesny dostęp do górnej i dolnej strony próbki.