Wyniki przetargu: Dostawa standardowych elementów optycznych, optomechanicznych i mechanicznych

Przetarg skladajacy sie z 5 czesci: Część 1: Dostawa sond do mikroskopu sił atomowych (AMF) Opis Przedmiotu Zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowych sond do mikroskopu sił atomowych (AFM), przeznaczonych do różnych trybów pracy, w tym obrazowania topografii, właściwości nanomechanicznych oraz pomiarów elektrycznych. Szczegółowa specyfikacja techniczna 1. Sondy AFM do dynamicznego trybu przerywanego kontaktu - Typ I Zastosowanie: Obrazowanie topografii i właściwości nanomechanicznych z kontrolą siły i automatyczną optymalizacją skanowania. Geometria wspornika: Trójkątna (triangular cantilever) o zwiększonej sztywności skrętnej.