Przetarg: F2/143/2026/ZP Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozproszenia i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.

Opis Przedmiotu Zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie oraz testowanie fabrycznie nowego przyrządu do pomiarów profili rezystancji rozproszenia i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych. Zamówienie obejmuje również przeprowadzenie specjalistycznego szkolenia dla personelu oraz dostarczenie pełnej dokumentacji technicznej i eksploatacyjnej. Charakterystyka i parametry techniczne urządzenia Przeznaczenie: Kontrola rezystywności warstw półprzewodnikowych (w szczególności GaN, SiC, Ga2O3) za pomocą pomiaru rezystancji rozproszenia. Wymagania ogólne: Możliwość pomiaru próbek bez konieczności wytwarzania kontaktów omowych.